ZEISS METROTOM 800
320 kV

ZEISS METROTOM 800 320 kV penetra partes de materiales densos y ofrece resultados fiables con una calidad de escaneado excepcional gracias a su tubo de micro enfoque de alto kV. Con una potencia de salida de hasta 500 W y un tamaño mínimo de punto de tan sólo unas micras, consigue el equilibrio perfecto entre velocidad y resolución, por lo que resulta ideal tanto para la obtención de imágenes detalladas como para exploraciones rápidas con aprobación metrológica. El software ZEISS INSPECT X-Ray garantiza un flujo de trabajo fluido e intuitivo, desde la adquisición del escaneado hasta el análisis final.

ZEISS METROTOM 800 320 kV ofrece la máxima flexibilidad, manipulando desde intrincados álabes de turbina o implantes médicos hasta grandes conectores y piezas electrónicas multimaterial de mayor tamaño. Con su fuente de rayos X de alto kV y sus ajustes de escaneado adaptables, el sistema proporciona una penetración y precisión óptimas para obtener resultados precisos en piezas de distintos tamaños y materiales. Esto la convierte en la solución ideal tanto para la inspección como para la metrología en una amplia gama de aplicaciones industriales.

Con estrictas especificaciones de metrología a alto kV, ZEISS METROTOM 800 320 kV es ideal para aplicaciones exigentes como álabes de turbinas aeroespaciales, implantes médicos y componentes de acero. Cumple las normas VDI/VDE 2630 1.3, lo que garantiza la máxima precisión de medición tanto para el control de calidad como para las inspecciones críticas de geometrías complejas.

El tubo de rayos X de nuestro sistema funciona a altos kV de forma continua, por lo que no requiere fase de enfriamiento. Esto garantiza el máximo tiempo de actividad, lo que permite realizar exploraciones consecutivas sin retrasos. Ya se trate de inspecciones de larga duración o de entornos de alto rendimiento a un lado de la línea, ZEISS METROTOM 800 320 kV ofrece un rendimiento y una productividad constantes.

La corta distancia entre la fuente y el detector permite realizar exploraciones hasta cuatro veces más rápidas que con otros sistemas ZEISS METROTOM para reducir aún más los tiempos de exploración en aplicaciones de alto rendimiento. Además, ZEISS scatterControl minimiza los artefactos de dispersión, garantizando imágenes nítidas y de alto contraste incluso para materiales densos: una combinación ideal de velocidad y calidad de imagen para inspecciones industriales exigentes.