ZEISS O-INSPECT duo ofrece dos tecnologías en una sola máquina: las piezas de gran tamaño, como placas de circuito impreso, pilas de combustible o baterías, pueden medirse e inspeccionarse en su totalidad con alta resolución. La combinación de la tecnología de medición 3D y la inspección microscópica aumenta la eficiencia y ahorra espacio en los laboratorios de calidad. ZEISS O-INSPECT duo está disponible en el tamaño 8/6/3.
2 en 1: Microscopio y máquina de medición en un solo equipo
Mediciones 3D rápidas y precisas: ópticas y táctiles
Óptica de alta resolución con software de inspección adicional ZEISS ZEN core
Como microscopio VMM, ZEISS O-INSPECT duo cubre dos aplicaciones esenciales en el control de calidad: Medición precisa e inspección de alta resolución de componentes grandes o muy pequeños. El dispositivo también se ha desarrollado específicamente para aplicaciones en las que se requiere una combinación de medición dimensional e inspección, incluida la segmentación, la costura y el procesamiento de imágenes en color. En vez de tener que adquirir un VMM y un microscopio, en los laboratorios de calidad sólo se necesita un dispositivo, lo que ahorra espacio y costos de sistema. Obtenga más información sobre otras ventajas del dispositivo multifuncional para las áreas correspondientes.
ZEISS O-INSPECT duo es una máquina de medición multisensorial que impresiona por su óptica de alta resolución combinada con el sensor de escaneo táctil ZEISS VAST XXT. El sensor permite realizar mediciones 3D rápidas y precisas capturando un gran número de puntos de medición en un solo movimiento.
Las piezas muy pequeñas o sensibles pueden medirse sin contacto y con una excelente precisión, así como con una reducción significativa del tiempo de medición gracias al palpado ZEISS VAST (ZVP). Esto es posible gracias al amplio campo de visión con una alta resolución de imagen y una fidelidad de imagen excepcional, incluso en las zonas periféricas.
METROLOGÍA
Inspección y medición de superficies en una sola máquina
VMM hoy, microscopio mañana
Además de medir las dimensiones, muchas piezas también requieren una inspección de la superficie. Donde antes se utilizaban dos dispositivos separados para la medición y la inspección, ahora ZEISS O-INSPECT duo ofrece una solución 2 en 1. Gracias al manejo intuitivo del dispositivo y al sensor de la cámara en color Discovery.V12 scout 160 c de 5 MP de alta resolución con objetivo zoom 12x, ahora las tareas de inspección también pueden cubrirse en el dispositivo de medición. Además del uso habitual con ZEISS CALYPSO, la máquina también puede utilizarse para tareas de microscopía con el software ZEISS ZEN core.
MICROSCOPÍA
Nuestro microscopio más grande
Inspección de piezas grandes en su conjunto
Cortar componentes es cosa del pasado: La inspección óptica de piezas de gran tamaño, como placas de circuito impreso, pilas de combustible o baterías, ya es posible en su totalidad. De este modo, se ahorran valiosos recursos y tiempo y se reducen las fuentes de error provocadas por el traslado de piezas fragmentadas de un sistema a otro.
Además de la inspección de piezas grandes, ZEISS O-INSPECT duo también es adecuado para la inspección automatizada de muchas piezas pequeñas. Esto significa que el microscopio de medición sólo tiene que cargarse una vez y que la inspección se realiza en un solo paso sin cambiar las muestras individuales.
MICROSCOPÍA
Cámara en color de alta resolución de 5 MP
Detectar defectos con precisión
Mientras que las imágenes en blanco y negro ofrecen grandes diferencias de contraste en la tecnología de medición, las imágenes en color ofrecen una ventaja en el análisis microscópico: Con una resolución de imagen de 5 megapíxeles en color, incluso los defectos más pequeños se representan con claridad y permiten una inspección y evaluación precisas. ZEISS O-INSPECT duo puede utilizarse con el conocido software de microscopía ZEISS ZEN core.
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Descubra los detalles
Gran campo de visión con alta definición de imagen
El sensor de la cámara ZEISS Discovery.V12 scout 160 c con 5 MP garantiza una alta resolución y permite visualizar los detalles y estructuras más pequeñas gracias al zoom 12x. El gran campo de visión de 16,1 x 12 mm permite mostrar más información por imagen. La cámara en color permite realizar análisis microscópicos precisos y, al mismo tiempo, garantiza resultados siempre exactos en metrología gracias a la alta resolución de 5 MP.
Iluminación
El anillo luminoso se compone de un anillo exterior y otro interior con led blancos que pueden controlarse individualmente en 16 segmentos. El dispositivo también dispone de una luz coaxial ascendente y una luz de fondo, lo que permite el análisis de una gran variedad de aplicaciones y piezas de trabajo.
Mediciones táctiles 3D rápidas y precisas
ZEISS VAST XXT hace posible el escaneado de alta precisión mediante la captura de un gran número de puntos de medición en un solo movimiento, proporcionando una precisión de 1,5 µm + L/250 µm.
Platina grande
La platina de 800 x 600 x 300 mm permite medir e inspeccionar piezas grandes de hasta 100 kg de peso, sin tener que cortarlas, destruirlas o mecanizarlas antes de la medición. Alternativamente, también pueden inspeccionarse automáticamente varias piezas pequeñas gracias a la gran platina.
2 productos de software
ZEISS CALYPSO ofrece opciones de visualización mejoradas para ahorrarle tiempo. Los modelos CAD pueden visualizarse superpuestos, y las posibles desviaciones (ACTUAL a OBJETIVO) pueden identificarse rápidamente. Gracias a una gran variedad de opciones, ZEISS CALYPSO también ofrece las herramientas adecuadas para requisitos especiales. ZEISS ZEN core es la contrapartida para microscopía: Además de la obtención clásica de imágenes, el paquete de software también incluye herramientas de obtención de imágenes, segmentación, análisis y conectividad de datos para microscopía multimodal en entornos de laboratorio y producción conectados.
Informes profesionales y prácticos
ZEISS PiWeb reporting ofrece documentación y visualización de sus datos de medición con un solo clic, proporcionándole información útil sobre sus piezas y procesos.
Contrastes óptimos
Además de la luz ascendente coaxial y la retroiluminación, ZEISS O-INSPECT duo también ofrece varias opciones de control para la luz anular. Los anillos de LED internos y exterior pueden encenderse y apagarse por separado o activarse sólo en segmentos individuales.
Led internos y exteriores
El anillo luminoso está formado por led internos y exteriores de color blanco. La combinación de led internos y exteriores proporciona una iluminación máxima de la pieza de trabajo.
Led internos
La luz anular interior aumenta los contrastes en la textura de la superficie, lo que se traduce en mejoras como un mejor enfoque, para obtener resultados de medición aún más precisos.
Marco celular
Los led del anillo luminoso exterior permiten filtrar las interferencias de la luz ambiente. Esto proporciona ventajas como la iluminación de materiales de color con alto contraste.
Iluminación por segmentos
El anillo luminoso consta de 16 segmentos que pueden controlarse individualmente. Esto garantiza una iluminación optimizada de acuerdo con las propiedades de su pieza de trabajo.
Ergonómico y cómodo de manejar
ZEISS O-INSPECT duo no sólo tiene que cumplir los más altos estándares técnicos en términos de calidad, fiabilidad y velocidad, también tiene que ser seguro, ergonómico y fácil de usar. La excelencia técnica de nuestros componentes sólo tiene pleno efecto si el producto puede utilizarse fácilmente según lo previsto. Por eso hemos equipado ZEISS O-INSPECT duo con funciones útiles.
Palet opcional
El palet opcional es adecuado para piezas de trabajo planas y permite un transporte sencillo, así como una fijación segura en la máquina.
Cubierta frontal extraíble
Gracias a la cubierta frontal extraíble, ZEISS O-INSPECT duo puede transportarse cómoda y fácilmente a la ubicación deseada y colocarse de forma óptima mediante un montacargas.
Soporte del panel de control
El soporte del panel de control puede colocarse de forma flexible en cualquier lado de la máquina, lo que garantiza una accesibilidad y un manejo óptimos.
¿CALYPSO o ZEN core? Ambos.
ZEISS O-INSPECT duo cuenta con dos programas de software dedicados con funciones específicas para tareas de microscopía y metrología. Por lo tanto, los operadores de los respectivos campos no necesitan aprender un nuevo software.
ZEISS CALYPSO para un control de calidad optimizado
Combinadas con ZEISS CALYPSO, las máquinas de medición de coordenadas de ZEISS aprovechan todo su potencial. Optimice su control de calidad: El software lo ayuda antes, durante y después de la medición. Mida y analice sus piezas de trabajo con una serie de funciones diferentes y aproveche al máximo su máquina de medición de coordenadas.
Creación automática de planes de inspección a partir de PMI: ZEISS CALYPSO crea automáticamente planes de inspección basados en datos de PMI que incluyen todas las características relevantes.
Control de versiones de los distintos planes de inspección: Puede rastrear todos sus pasos, ya que todas las variantes del plan de inspección están versionadas. No tendrá que trabajar con varias copias, ya que todo se gestiona directamente en el plan de inspección.
Implementación y optimización de estrategias de medición: La herramienta de generación integrada sirve para aplicar estrategias de medición específicas de la empresa u optimizar sus planes de inspección basándose en las recomendaciones de ZEISS.
Potente visualización de los resultados de medición: Con ZEISS PiWeb reporting, ZEISS CALYPSO ofrece una herramienta profesional integrada para el diseño de protocolos para crear visualizaciones significativas de sus resultados de medición.
Microscopía multimodal conectada con ZEISS ZEN core
ZEN core no se limita a la obtención de imágenes microscópicas: El software es el conjunto más completo de herramientas de obtención de imágenes, segmentación, análisis y conectividad de datos para microscopía multimodal en laboratorios de materiales conectados. También ofrece amplias funciones, como la creación de mosaicos, costura (interferometría) y la detección automática de errores.
Una interfaz para todos los microscopios ZEISS: ZEN core le proporciona una interfaz de usuario unificada para microscopios y cámaras ZEISS. Realice flujos de trabajo multimodales y conecte todos los datos analíticos y de imágenes entre sistemas, laboratorios y ubicaciones.
Imágenes avanzadas y análisis automatizados: ZEN core es su centro de mando para configurar funciones automatizadas de imagen, segmentación y análisis de microscopios ópticos compuestos.
Soluciones de infraestructura para el laboratorio conectado: ZEN core proporciona la infraestructura para entornos de laboratorio conectados y unifica todas sus soluciones de imagen y microscopía de ZEISS en una única interfaz de usuario.
ZEISS Discovery.V12 scout 160 c, cámara en color de 5 MP, 2646 x 2056 píxeles
Iluminación
Luz anular LED de 16 segmentos con led blancos, luz ascendente coaxial y retroiluminación
Distancia de trabajo en mm
55
Zoom mecánico
12 x
Campo de visión máx. en mm
16,1 x 12
Cabezal de sonda táctil compatible
ZEISS VAST XXT - TL1/TL3
Capacidad
100 kg
Precisión táctil y óptica
1D: 1,5 μm + L/250
2D: 1,8 μm + L/250 μm
3D: 2,2 μm + L/250 μm
Software
ZEISS CALYPSO (para metrología)
ZEISS ZEN core (para microscopía)
Ejemplos de aplicación
Vea los vídeos de aplicación y compruebe cómo se miden e inspeccionan diferentes piezas de trabajo, como plásticos médicos, placas bipolares o placas de circuitos impresos, con ZEISS O-INSPECT duo.
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Medición e inspección de componentes electrónicos con ZEISS O-INSPECT duo
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Medición e inspección de placas bipolares con ZEISS O-INSPECT duo
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Medición e inspección de plásticos médicos con ZEISS O-INSPECT duo
En microscopía, ahora disponemos de mucho más espacio para observar los componentes y ya no es necesario cortar las muestras
Vea nuestra grabación de demostración con funciones, software y mejores prácticas
Experimente O-INSPECT duo en acción y vea nuestro webinar sobre productos para conocer interesantes puntos de vista de nuestros jefes de producto, demostraciones de software y una primera declaración de uno de nuestros clientes piloto. En esta sesión aprenderá cómo la combinación de microscopía y metrología en un único dispositivo mejorará sus procesos de control de calidad.
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