Jornada técnica Desafíos 2026

¿Qué puedes esperar?

Durante esta jornada, ZEISS y METRONIC pretenden compartir casos complejos reales a los que se han enfrentado ayudando a clientes en distintos desafíos. Tendrás la oportunidad de conocer estrategias y soluciones innovadoras.

Presentaremos

Ante la necesidad de automatizar mediciones complejas sin especialistas, la CMM multisensor O-INSPECT junto con CALYPSO Autorun ofrece un entorno 3D intuitivo para ejecutar y gestionar programas de forma automática.
Cuando es imprescindible ver el interior de las piezas con precisión metrológica, la Tomografía Computarizada de METROTOM 1500 combinada con ZEISS INSPECT permite analizar volumen, defectos y geometría interna.
Para digitalizar piezas de múltiples dimensiones, incluso directamente en producción, ZEISS Scancobot&ScanPort junto con el escáner portátil T-SCAN hawk 2 proporciona una solución de medición móvil, flexible y automatizable.
Para la inspección visual detallada y la documentación rápida de defectos superficiales, los microscopios industriales Stemi 508 y Smartzoom 100 ofrecen una alta calidad de imagen y flujos de trabajo automatizados.

Agenda del Evento

Presentaciones Técnicas: Expertos de ZEISS y METRONIC compartirán sus conocimientos sobre las últimas tendencias en tecnología de medición y su aplicación en la industria.
Demostraciones en Vivo: Tendrás la oportunidad de ver nuestros equipos de laboratorio y producción en vivo y comprender qué pueden aportar en tus procesos de calidad y producción.
Networking: Conecta con otros profesionales del sector y comparte experiencias y mejores prácticas.

Inscripción
No pierdas la oportunidad de asistir a este evento exclusivo. Regístrate ahora y asegura tu lugar en la jornada técnica en el QEC de Abrera. ¡Te esperamos!

Para más información, no dudes en ponerte en contacto con nosotros. ¡Nos vemos pronto!

ZEISS Quality Excellence Center Nave 32 12-14, Carrer Francesc Layret, 08630 Abrera, Barcelona