ZEISS en BIEMH2026

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¡Vísitanos en nuestro stand en la BIEMH2026!

Es un placer para nosotros invitarte a visitarnos en la próxima edición de la feria BIEMH 2026, el evento líder en tecnología de fabricación y maquinaria industrial, que se celebrará del 2 al 6 de Marzo en el Bilbao Exhibition Center.

Visita nuestro stand, G-21, en el Pabellón 3. Este año con más novedades.

No te pierdas nuestras ponencias de expertos:

- Miércoles 4 de marzo
o A las 11.30 h Aplicaciones industriales de la Tomografía Computarizada
Con Carmelo Santamarina, Responsable de Ensayos No Destructivos en AZTERLAN
• Usos y principios de la tecnología CT
• Interpretación e inspección de defectos internos
• Ventajas y comparativa con otras técnicas NDT

- Jueves 5 de marzo
o A las 12.00 h Las tecnologías de ZEISS al servicio de la Metrologia Industrial
Con Gorka Kortaberria, Director de la Unidad de Metrología Industrial de Tekniker
• Tecnologías medición con y sin contacto, capacidades y precisión.
• Asignación de incertidumbres y explotación de datos metrológicos.
• Soluciones robotizadas y autónomas.

o A las 13.00 h Ventajas de la Tomografía en Piezas Pequeñas y Ensamblajes Complejos
Con Iker Loyarte, Ingeniero de calidad y mejora continua en ABB
• Metrología ágil y precisa en piezas pequeñas y complejas
• Digitalizado y medición de múltiples cavidades
• Control de ensamblajes y análisis de fallos

Nos encantaría contar con tu presencia y compartir contigo cómo nuestras soluciones pueden impulsar tu negocio. Por favor, déjanos tus datos para conseguir tu invitación gratuita y tu registro a la ponencia que más te interese.


 

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