25/05/2022 11:00 - 12:00
25/05/2022 11:00 - 12:00
México / Ciudad de México
Ponente: Dr. David Giraldo
Fecha y horario: Mayo 25 | 11:00 am - 12:00 pm.
Lugar: Carl Zeiss México, CDMX, México
Resumen: El microscopio electrónico de barrido (MEB o SEM, por Scanning Electron Microscope) es un tipo de microscopio electrónico capaz de producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Aplica un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen, en esta ocasión repasaremos los principios básicos de operación del equipo además de las diferentes aplicaciones de esta técnica.
Link de registro: https://zeiss.ly/emwebinarmx