JENA/Alemania, PLEASANTON/California/EE. UU., 5 de agosto de 2013

ZEISS presenta una nueva solución de microscopía de rayos X (XRM por sus siglas en inglés), que aumenta el rendimiento de la captura de imágenes tridimensional en la escala nanométrica hasta 10 veces. Mediante el uso de una serie de innovaciones técnicas para obtener un mejor contraste, y a su vez conseguir una obtención más rápida, el nuevo Xradia 810 Ultra de ZEISS va a revolucionar el modelo de captura de imágenes de rayos X en los laboratorios de investigación científica e industrial de todo el mundo. Este sistema de microscopio, que se presentó en la conferencia de Microscopía y Microanálisis de 2013 de Indianápolis, ya está disponible en el mercado.

Xradia 810 Ultra funciona en 5,4 keV, una energía de rayos X más baja que proporciona mejor un contraste y calidad de imagen para muchos materiales. El contraste mejora significativamente debido a que estos rayos X de baja energía se absorben mejor, lo que permite realizar tomografías de alta calidad en tiempos de captura de imágenes drásticamente reducidos. La unidad de negocio de ZEISS dedicada a la microscopía de rayos X ha desarrollado la arquitectura del Xradia 810 Ultra alrededor de esta nueva fuente de energía, usando una innovadora óptica para ampliar las capacidades de la familia Xradia, las únicas soluciones de captura de imágenes no destructivas basadas en laboratorio que permiten conseguir resoluciones por debajo de 50 nanómetros.

Al hacer de la captura de imágenes de rayos X en la escala nanométrica basada en laboratorio una orden de magnitud más rápida, Xradia 810 Ultra optimiza el interés comercial de la XRM tanto en la ciencia como en la industria:
en los estudios de viabilidad de petróleo y gas, las mediciones empleadas en geología digital para caracterizar parámetros clave como la porosidad y la tortuosidad pueden realizarse ahora cuestión de horas. El contraste superior que ofrece Xradia 810 Ultra optimiza la captura de imágenes de rocas carbonatadas y pizarras.
Ahora pueden llevarse a cabo estudios en 4D e in situ, en los que las estructuras internas se capturan repetidamente a lo largo del tiempo en condiciones variables, en una fracción de ese tiempo, lo que hace que estos experimentos sean más accesibles para un gran número de investigadores. En comparación con los métodos de seccionamiento físico, el enfoque no destructivo de la XRM ahora puede diferenciarse por aportar la ventaja de una mayor velocidad para volúmenes similares en relación con las técnicas de sección en serie (sección y vista).
El contraste de alta absorción en 5,4 keV, además del contraste de fase de Zernike, permiten obtener una captura de imágenes de rayos X de alta resolución viable para una gran variedad de materiales biológicos y con número atómico bajo, como los polímeros y las muestras de tejido.

En los laboratorios centrales de microscopía en los que los investigadores utilizan sistemas de XRM, el coste por muestra para los usuarios suscritos es bajo, lo que permitirá exponer esta tecnología única a una amplia base de investigadores.

"Como pioneros en la captura de imágenes de rayos X en la escala nanométrica en sincrotrones y en destacados laboratorios de investigación en todo el mundo, el siguiente paso lógico era optimizar la XRM para los desafiantes materiales en los que se centran nuestros clientes en la actualidad y con vistas al futuro," dice Dr. Kevin Fahey, Científico Jefe de Materiales en Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc. "Con el estudio de materiales con números atómicos bajos y medios, lo que supone un centro de interés principal de las investigaciones en todo el mundo, Xradia 810 Ultra hace posible capturar imágenes de una gran variedad de polímeros, óxidos, compuestos, determinadas pilas de combustible y otros materiales de interés, de forma más económica y eficiente."

Junto con la resolución a escala nanométrica, Xradia 810 Ultra aprovecha la absorción y el contraste de fase de Zernike, como una avanzada óptica adaptada del sincrotrón para proporcionar una resolución y un contraste líderes en su campo. Este sistema fomenta la filosofía de ZEISS de continuar innovando y ofreciendo soluciones de alta potencia que sobrepasen los límites de la exploración, para permitir un gran avance en las investigaciones de los laboratorios de todo el mundo.