JENA, REGENSBURG/Alemania, 26 de agosto del 2013

El grupo empresarial Microscopy de ZEISS presentará el primer sistema de la nueva serie Crossbeam en la MC 2013 de Regensburg, Alemania. Sus excelentes prestaciones incluyen alta velocidad en análisis y procesamiento de materiales, y su amplia diversidad de aplicaciones. Los experimentos 3D que requerían mucho tiempo y solían llevar varios días se pueden finalizar ahora en una noche.

La recientemente desarrollada columna de iones focalizados (FIB) permite un procesamiento de material rápido y preciso que se puede observar con el microscopio electrónico de barrido de emisión de campo en tiempo real. La alta resolución a lo largo de todo el rango de voltaje y corriente permite a los usuarios trabajar de forma rápida y precisa. Diseñado para la estabilidad, el sistema asegura resultados reproducibles, incluso en experimentos de larga duración. El campo de aplicación se extiende gracias al Massive Ablation Laser, que se puede obtener si así se desea, y que prepara rápidamente muestras para acceder a regiones de interés profundamente enterradas. El Crossbeam es apto para su uso tanto en ciencias de materiales como en  ciencias de la vida. Los científicos de materiales se benefician de la excelente analítica 3D, la posibilidad de capturar imágenes de especímenes magnéticos y no conductores con máxima resolución, y de los contrastes de material únicos.

Los biocientíficos pueden utilizar Crossbeam, sobre todo, para series de tomografía rápida con alta resolución Z en biología celular y de tejidos. El módulo de detección STEM proporciona información estructural adicional. El sistema ofrece flujos de trabajo automatizados, por ejemplo para preparación de lámina TEM. Al mismo tiempo el software abierto ofrece a los usuarios la posibilidad de integrar y automatizar sus propias aplicaciones. El diseño modular de Crossbeam lo convierte en una nano estación de trabajo 3D abierta que se puede configurar y actualizar en campo para un amplio espectro de las aplicaciones de hoy en día y del futuro, ofreciendo por tanto la máxima flexibilidad al usuario.

El sistema de microscopio está disponible en dos versiones. La columna GEMINI I VP (presión variable) de Crossbeam 340 ofrece unas condiciones de análisis óptimas para experimentos in situ con especímenes liberadores de gas y generadores de carga. Gracias a la columna GEMINI II con doble sistema condensador, los usuarios de Crossbeam 540 se benefician de más información en menos tiempo. El sistema proporciona alta resolución, incluso con bajo voltaje y alta corriente de haz, permitiendo una analítica rápida y fácil de utilizar.

En combinación con un microscopio de rayos X ZEISS Xradia (XRM), Crossbeam ofrece la posibilidad de análisis completos de espécimen a lo largo de varios órdenes de magnitud. El microscopio de rayos X proporciona primero una imagen 3D del espécimen sin destruirlo antes de que las áreas identificadas se procesen con un haz iónico focalizado y se analicen con el haz de electrones.