Microscopios de electrones e iones

Productos SEM EVO® MA/LS and HD FE-SEM ΣIGMA, SUPRA®, ULTRA, MERLIN® FIB-SEM CrossBeam® Workstations TEM LIBRA® 120 and LIBRA® 200 HIM (Helium Ion Microscope) ORION® PLUS Process Specific Tools ParticleSCAN VP, JetSCAN and SmartPI Extensiones del producto Correlative Microscopy Shuttle&Find Large Area Imaging ATLAS™

Maximum Information – Maximum Insight Más de 160 años de experiencia en óptica han asentado las bases para la electrónica de vanguardia y microscopios de haz de iones del Sistema de Nanotecnología (NTS) de Carl Zeiss. Con nuestra gama de productos única, le ofrecemos siempre una solución a la medida - de las tareas rutinarias en materia de metrología y control de calidad a liderar la investigación básica en la industrial y académica. Ya sea en ciencias de la vida o en el análisis de materiales, nuestra misión es en todo momento: Maximum Information - Maximum Insight. Carl Zeiss Nano Technology Systems International Homepage

Más información El primer número del boletín de Carl Zeiss NTS redactado en español. Regístrese aquí Antiguos boletínes Folletos He-Ion, SEM, FE-SEM,TEM y Literatura de NTS División (en inglés)